【型式】AFM50000Ⅱ

【メーカー】日立ハイテクサイエンス

【目的】ナノスケールレベルでの固体表面の形状、弾性率測定

　　　　固体表面の薬剤付着状態の解析

【概要】微小な針（探針：プローブ）で試料をなぞって、その形状や性質を観察する顕微鏡